Nous l’avons tous observé : quand on éclaire un objet troué, on obtient son ombre grandie sur un écran placé plus loin. Mais peut-être l’avez-vous remarqué : suivant la source de lumière qu’on utilise, la forme de l’ombre obtenue n’est pas la même. En fait, cette ombre nous renseigne sur les qualités de la source de lumière elle-même.
Lors de l’atelier « Le microscope à projection » proposé pour la fête de la science, nous verrons comment utiliser cette image : l’ombre, pour remonter aux propriétés de la source.

Dans mon laboratoire de recherche, je travaille sur une nouvelle source d’ions. Celle-ci pourra, peut-être, servir dans un microscope ionique ou dans une colonne d’ions pour l’abrasion précise et contrôlée des matériaux. Pour caractériser ma source, j’utilise entre autre le même montage que celui présenté dans l’atelier mais au lieu d’avoir une source de lumière, j’ai une source de particules chargées (des ions) : on appelle ce montage, le microscope ionique à projection.
Si je fais cet atelier avec de la lumière, c’est pour expliquer le principe des mesures que je fais pendant ma thèse. Mon expérience, sous vide, serait beaucoup trop lourde à transporter!